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电子元器件可靠性温度控制方法探讨

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  摘 要:本文首先从温度对可靠性的影响入手,简述了元器件可靠性温度与冷却系统的关系,通过降额设计来确定元器件的工作温度;其次,对可靠性温度控制方法进行了探讨,元器件的温度控制应从电路参数设计开始,合理确定元器件的功耗,运用可靠性仿真对产品进行优化迭代;最后,对电子元器件可靠性设计流程和发展方向提出了总结和展望。
  关键词:元器件;可靠性;温度控制
  
  电子设备在实际使用中会受到各种环境的影响,特别是军用电子设备的使用环境更加恶劣,如气候环境、温度环境、机械应力环境、电磁环境等等。这些外界环境因素会产生各种应力来影响电子设备的功能和性能,同时也会对组成电子设备的电子元器件的可靠性产生重要的影响,影响电子元器件可靠性的因素主要有:电应力、温度应力、机械应力、时间应力等。据资料介绍,超过55%的电子设备的失效形式是由温度过高引起的。[1]因此,对电子元器件的温度进行控制,提高可靠性显得尤为重要。
  1 可靠性与温度的关系
  温度对电子元器件可靠性的影響一是元器件结温超过允许温度,造成失效。二是由于组成元器件材料的热膨胀系数不同,元器件在受热膨胀或冷却收缩时会产生热应力,这种热应力会使金属化的陶瓷基板和热沉产生变形或开裂。元器件工作时承受的热应力越高失效率越高。因此,元器件的可靠性与温度有着直接的关系。元器件的失效率可以由以下Arrhenius方程表示。
  F=Ae-Ea/KT
  式中:F─失效率;
  A─常数;
  Ea─激活能(电子伏eV),经验值,根据失效机理确定;
  K─玻尔兹曼常数(8.63×10-5eV/K);
  T─结温(K)。
  上式的物理意义是,不同的失效机理所产生的失效用激活能这样一个参数来表达,但是,一个电子元器件可能同时存在一种或多种失效机理。因此,激活能是一个耦合的参数,工程上依据试验积累,一般选择0.65作为经验值。在此经验值的前提下,温度每升高10℃,失效率增大1倍。
  2 元器件工作温度确定
  从元器件的角度来讲,温度越低可靠性越高,但到一定的程度可靠性的提高将会变缓。从系统的角度,元器件的工作温度越高,冷却系统体积、重量、成本会更低。因此,如何科学地确定元器件的工作温度,需要综合考虑各方面的因素。一般情况下,应当根据使用环境和系统要求对元器件进行降额设计,使得元器件的工作温度在满足可靠性要求的前提下尽量高,降低对冷却系统的要求。
  降额设计时,应首先根据设备应用平台和可靠性要求确定降额等级,降额有一个最佳范围,此时应力的降低对失效率有明显的降低。然后,根据元器件类型确定降额参数,集成电路的降额参数主要有电源电压、输入电压、输出电流、功率、最高结温等。对于大规模集成电路来说,主要是降低结温。对于这些参数应进行综合权衡,而不是孤立看待,另外,还要根据降额等级和降额参数确定降额因子,也就是确定元器件实际承受的应力与额定应力之比,作为元器件的选用依据。最后,还应根据得到的降额后的电参数来计算相应的结温,此温度值必须低于允许的最高结温才能满足温度的降额要求。
  3 温度控制方法
  电子元器件的温度不仅与自身的电气参数有关,还与其工作环境有着密切的关系。从设备的角度可采取的办法,一是在进行电路设计时进行降功耗设计,二是采取冷却措施,将元器件控制在允许的温度范围内。
  电子元器件的典型功耗可用下式表示:
  P=CV22f
  式中:C─输入电容(F);
  V─信号正负峰值间电压摆动(V);
  V─开关频率(Hz)。
  当元器件选定后,C 和V值已经确定,此时应该根据需要尽量选择较低的工作频率。
  当完成电气设计,元器件选定后,其所能承受的最高温度也已明确。另外一项重要的工作就是采取热管理措施控制元器件的温度。热分析的基本方法主要有试验、类比和仿真分析。试验方法能够准确得到设备内部温度分布,但要有实验样机,若存在问题,需要对设计进行更改并重新制造样机。类比方法操作方便、简单易行,但是新研发的产品没有类比的基础,不能得出类比结果。仿真方法能够在设计阶段对产品进行热分析,直观地了解设备的温度分布。
  仿真分析的基础是确定元器件的功耗,实际中,由于工作模式不同,元器件的功耗也会发生变化,不会在额定功耗下工作。一般整板的功耗可以测量,而单个元器件的功耗难以准确获得。目前普遍采用的办法是估算法,电气设计人员根据测得的整板功耗,结合电路设计情况、元器件工作模式以及类比来确定主要发热元器件的功耗。热仿真人员根据元器件热模型和结构模型进行仿真分析,分析结果满足要求后再进行详细结构设计。当样机生产完成后,还应对主要发热元器件进行热测试,验证仿真分析结论并对热模型进行修正,多次迭代后的热模型的准确性将会大大提高。
  器件的功耗确定后,影响温度控制的主要因素就是散热措施。在满足可靠性的基础上应尽量采取简单的散热措施。自然散热是最简单的措施,但散热能力有限。采用风冷时应对换热结构进行优化,提高对流换热系数。若功耗很大,可采用液体冷却、喷雾冷却等方法,但也会使冷却系统变得复杂,成本提高,必须慎重采用。除了尝试将液体冷却、喷雾冷却系统小型化与器件集成外,更重要的是充分挖掘自然散热、风冷等传统方法的潜力。
  4 结论
  元器件温度控制对提高电子设备的可靠性具有重要的作用,其控制方法主要有以下几点:a.根据使用环境选择元器件;b.根据设备重要程度进行降额设计,确定元器件工作温度;c.在满足设备要求的情况下,进行降功耗设计,控制元器件的发热量;d.初步设计冷却系统,进行热仿真,得出关键元器件的温度,并在样机生产后进行测试验证;e.对设备进行综合分析,选择既能满足可靠性要求,成本又最低的设计方案。
  参考文献:
  [1]刘一兵.电子设备散热技术研究[J].电子工艺技术,2007,5 (28):286-289.
  [2]Charles A.Harper著,贾松良,等译.电子封装与互连手册(第4版).北京:电子工业出版社,2009.
  [3]国防科工委.GJB/Z 35-93元器件降额准则.
  [4]Lasance C.Technical Data column,ElectronicsCooling,January 1997.
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